民用電子產(chǎn)品常用的環(huán)境可靠性測試設備

　　為了使產(chǎn)品能達到預定的可靠性指標，在研制階段需要對樣品進(jìn)行可靠性試驗，以便找出產(chǎn)品在原材料、結構、工藝、環(huán)境適應性等方面所存在的問(wèn)題，而加以改進(jìn)，經(jīng)過(guò)反復試驗與改進(jìn)，就能不斷地提高產(chǎn)品的各項可靠性指標，達到預定的要求。以下是由三木科技整理的適應不同環(huán)境的可靠性試驗設備：

　　一、高溫烤箱

　　考核在不增強電應力的情況下，高溫對產(chǎn)品的影響。有嚴重缺陷的產(chǎn)品處在非平衡態(tài)，是不穩定態(tài)，由非平衡態(tài)向平衡態(tài)的過(guò)渡過(guò)程既是誘發(fā)有嚴重缺陷產(chǎn)品失效的過(guò)程，也是為了促進(jìn)產(chǎn)品從非穩定態(tài)向穩定態(tài)的過(guò)渡過(guò)程。

　　試驗標準：GB/T 2423.2-2008

　　二、高低溫試驗箱

　　考核產(chǎn)品承受一定溫度變化速率的能力及對高溫和低溫環(huán)境的承受能力.是針對產(chǎn)品熱機械性能設置的。當構成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內應力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機械結構缺陷劣化產(chǎn)生的失效。如漏氣、內引線(xiàn)斷裂、芯片裂紋等。

　　試驗標準：IEC68-2-30 ,GB10592-93 ,GB2423.1-2001,GB2423.2-2001,GB2423.3-93,GB2423.4-93

　　三、熱沖擊試驗箱

　　試驗產(chǎn)品在溫度劇烈變化，就是承受大溫度變化速率的能力。試驗為了找出產(chǎn)品的機械結構缺陷劣化，從而改善，熱沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的目的大同小異，不過(guò)熱沖擊試驗的條件比溫度循環(huán)試驗要嚴酷得多。

　　試驗標準：GB/T 2423.59-2008, GB11158, GB10592, GB10589

　　四、高低溫低氣壓試驗箱

　　試驗產(chǎn)品在低氣壓工作環(huán)境的適應能力。當氣壓減小時(shí)空氣或絕緣材料的絕緣強度會(huì )減弱;易產(chǎn)生電暈放電、介質(zhì)損耗等;氣壓減小會(huì )導致散熱條件變差，會(huì )使元器件溫度加大。這些因素都會(huì )使被試驗產(chǎn)品在低氣壓條件下喪失規定的功能，有時(shí)會(huì )產(chǎn)生損傷。

　　試驗標準：GB/T 2423.21-2008, GJB150.2, GJB360A, GB/T13543

　　五、恒溫恒濕試驗箱

　　以施加加速應力的方法評定微電路在潮濕和炎熱條件下抗衰變的能力，是針對典型的熱帶氣候環(huán)境設計的。微電路在潮濕和炎熱條件下衰變的主要機理是由化學(xué)過(guò)程產(chǎn)生的腐蝕和由水汽的浸入、凝露、結冰引起微裂縫增大的物理過(guò)程。試驗也考核在潮濕和炎熱條件下構成微電路材料發(fā)生或加劇電解的可能性，電解會(huì )使絕緣材料電阻宰發(fā)生變化，使抗介質(zhì)擊穿的能力變弱。

　　試驗標準：GB/T 2423.3-2016, GB/T 2423.4-2008 GJB 1509, GB/T 2423.34-2016

　　六、鹽霧試驗箱

　　以加速的方法評定元器件外露部分在鹽霧、潮濕和炎熱條件下抗腐蝕的能力，是針對熱帶海邊設計的.表面結構狀態(tài)差的元器件在鹽霧、湘濕和炎熱的狀態(tài)下外露部分會(huì )產(chǎn)生腐蝕。

　　試驗標準：GB/T 2423.17-2008, GB/T 10587-2006, GB/T 10125-2012