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銷(xiāo)售咨詢(xún)熱線(xiàn):
18925594996
產(chǎn)品中心

車(chē)燈高壓高濕試驗箱

簡(jiǎn)要描述:車(chē)燈高壓高濕試驗箱滿(mǎn)足標準:
1、IEC60068-2-66
2、JESD22-A102-B
3、EIAJED4701
4、EIA/JESD22
5、GB/T2423、40-1997

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-05-09
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:526
詳情介紹

  車(chē)燈高壓高濕試驗箱試驗說(shuō)明:

  用來(lái)評價(jià)非氣密封裝器件在水汽凝結或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結的、高濕度環(huán)境中,以使水汽進(jìn)入封裝體內,暴露出封裝中的弱點(diǎn),如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗用來(lái)評價(jià)新的封裝結構或封裝體中材料、設計的更新。應該注意,在該試驗中會(huì )出現一些與實(shí)際應用情況不符的內部或外部失效機制。由于吸收的水汽會(huì )降低大多數聚合物材料的玻璃化轉變溫度,當溫度高于玻璃化轉變溫度時(shí),可能會(huì )出現非真實(shí)的失效模式。

  外引腳錫短路:封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應,會(huì )造成離子遷移不正常生長(cháng),而導致引腳之間發(fā)生短路現象。濕氣造成封裝體內部腐蝕:濕氣經(jīng)過(guò)封裝過(guò)程所造成的裂傷,將外部的離子污染帶到芯片表面,在經(jīng)過(guò)經(jīng)過(guò)表面的缺陷如:護層針孔、裂傷、被覆不良處、、等,進(jìn)入半導體原件里面,造成腐蝕以及漏電流、、等問(wèn)題,如果有施加偏壓的話(huà)故障更容易發(fā)生。

  車(chē)燈高壓高濕試驗箱產(chǎn)品技術(shù)參數:

  控制方式:微電腦控制

  內箱尺寸:(mm)Φ240×D440

  時(shí)間控制:LED顯示器

  加壓時(shí)間:0.00Kg~1.04Kgcm2約45分鐘內

  壓力范圍:0~2.5Kg/cm²;(內桶設計耐壓3.5Kg/cm2)

  壓力波動(dòng):±0.02Kg

  測試條件:溫度121℃,100%R.H飽和蒸氣壓力1.04Kgcm2,

  立式,終尺寸請以實(shí)物為準

  時(shí)間范圍:000Hr~999Hr

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